Ученые из Всероссийского НИИ автоматики имени Н. Л. Духова и Университета МИСИС предложили прогнозировать возникновение дефектов в материалах ядерных реакторов с помощью новой модели на основе искусственной нейронной сети. Результаты полезны для создания материалов, устойчивых к облучению в течении длительного срока службы.
Проекты магистратуры ArtTECH — на фестивале-форуме «Территория будущего. Москва 2030»
Университет МИСИС вновь подтвердил лидерство по металлургии
студенты МИСИС
Главный корпус НИТУ МИСИС