Ученые из Всероссийского НИИ автоматики имени Н. Л. Духова и Университета МИСИС предложили прогнозировать возникновение дефектов в материалах ядерных реакторов с помощью новой модели на основе искусственной нейронной сети. Результаты полезны для создания материалов, устойчивых к облучению в течении длительного срока службы.
Сессия «Аддитивные биотехнологии» на Форуме будущих технологий
В Университете МИСИС открылась ИТ-лаборатория полного цикла от РЕД СОФТ
Сплав для твердотельных накопителей
Опыт реализации пилотного проекта обсудили на аналитической сессии Минобрнауки России