Радиация vs. солнечная панель: студентка МИСИС создала алгоритм для расчёта срока службы космической техники

Студентка Института новых материалов Александра Феклистова разработала методику, при помощи которой возможно смоделировать воздействие радиации на солнечные батареи (СБ) космических аппаратов и рассчитать срок эксплуатации. Разработка позволит упростить и в перспективе удешевить процесс наземной отработки СБ. С этим проектом Александра выиграла конкурс от благотворительного фонда «Система» и цифровой экосистемы МТС и получила стипендию 125 тысяч рублей на развитие полноценного приложения.

Солнечные батареи — главный источник энергии для спутников и других космических устройств. Но под воздействием ионизирующего излучения деградирует как бортовая электроника летательного аппарата, так и СБ, основа которых — фотоэлектрические преобразователи. Последние работают по принципу фотоэффекта: полупроводник поглощает кванты света, генерирует электронно-дырочные пары, которые создают электрический ток.

Чтобы спрогнозировать износ батарей, разработчики моделируют их работу в условиях, максимально приближенных к космическим. Первый этап расчета: определение исходных параметров целевой орбиты — получение информации о типах ионизирующего излучения на ней. Далее разработчики создают компьютерные модели, которые позволяют предсказывать ухудшение электрических параметров солнечных батарей в условиях радиации. Результаты помогают понять, какие материалы оптимальны для использования в заданных условиях.

Недостаток аналогичных ПО в том, что в основном они анализируют восприимчивость к ионизирующему излучению бортовой аппаратуры, которая находится внутри корпуса космического аппарата, тогда как ФЭП не защищены ничем, кроме оптически-прозрачного радиационно-стойкого стекла. Это требует отдельного подхода и технического решения. Алгоритм Александры обладает отличительной особенностью — выдаёт результат о воздействии излучения на вольт-амперную характеристику ФЭП, из которой можно рассчитать его максимальную мощность, КПД, коэффициент заполнения и прочие параметры.

«Потребителями ПО могут быть исследовательские лаборатории, научные институты и предприятия, исследующие различные планарные приборы электронной компонентной базы, в том числе диоды, транзисторы, фотодиоды на основе кремния. Моделируя выходные характеристики после воздействия излучения, можно сократить временные и денежные затраты на проведение натурных экспериментов», — прокомментировала Александра.

Сейчас под руководством научного руководителя, доцента кафедры полупровод­никовой электроники и физики полупровод­ников НИТУ МИСИС Наргизы Вагаповой разработана основная методика расчета. Благодаря консультациям и наставничеству ведущего научного сотрудника АО «НПП «Квант» Марии Рябцевой методика опробована на этом предприятии. В дальнейшем Александра планирует перенести решение в формат компьютерного кода на современном языке программирования и получить патент.